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优盘数据恢复之一体Flash数据恢复CE通道测试技术

更新时间:2015-08-14

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优盘数据恢复之一体Flash数据恢复CE通道测试技术
通过技术处理, 将一个CE的数据扩展到全部CE. 测试电路是否出现故障.

技术应用一:
做完整方案

技术应用二:
测试电路是否出现故障,通信质量
案例:
monolith SD pinout
Kingmax 8GB一体SD卡, 2CE. 第一份完好读出来. 第二份能识别正常ID. 但镜像没任何数据.通过一体FLASH CE测试技术将有数据的转换到这个有问题的通道上. 进行测试可以证明电路没有出现故障. 信号一切正常. 读出来的数据可以通过校验.